悬臂探针卡和垂直探针卡区别 - 永盛半导体有限公司

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悬臂探针卡与垂直探针卡：探针测试中的双剑合璧
在半导体集成电路的制造过程中，探针测试是确保产品质量和性能的关键环节。探针测试通过将探针接触到芯片上的特定点，来检测芯片的功能和性能。其中，悬臂探针卡和垂直探针卡是两种常见的探针测试工具。

2026-05-18